Mikroprocesszoros berendezések vizsgálata

Szerző

Radnai Rudolf

Szerkesztő

Bányai László

Grafikus

Csábi Józsefné

Lektor

Szemők István

'Radnai Rudolf: Mikroprocesszoros berendezések vizsgálata ' összes példány

Kiadó:	Műszaki Könyvkiadó
Kiadás helye:	Budapest
Kiadás éve:	1986
Kötés típusa:	Ragasztott papírkötés
Oldalszám:	259 oldal
Sorozatcím:
Kötetszám:
Nyelv:	Magyar
Méret:	24 cm x 17 cm
ISBN:	10-6794-7
Megjegyzés:	178 fekete-fehér ábrával illusztrálva. Tankönyvi szám: 61356.

Értesítőt kérek a kiadóról

A beállítást mentettük,
naponta értesítjük a beérkező friss
kiadványokról

Fülszöveg

Az elektronika óriási ütemben fejlődött az elmúlt néhány évtizedben. Erre a fejlődési folyamatra visszatekintve jól megkülönböztethető a szívós, kitartó tevékenységgel elért fokozatos technológiai fejlesztés és azok az ugrásszerű eredmények, amelyek egy-egy zseniális tervező nagy ötletének voltak köszönhetők.
A modern elektronika kezdetét 1947-től számítjuk. Bardeen, Brattain és Shockley ekkor készítette az első tranzisztort. Azóta a tranzisztorok gyártástechnológiája nagymértékben fejlődött, korszerűbb módszerekkel gyártják a félvezető-alapanyagot, tökéletesedett a szennyezőanyagok bevitele, fejlettebb a tokozás stb. Ezeknek a technológiai fejlesztéseknek az eredménye a kisebb zaj, a nagyobb frekvenciasáv vagy disszipáció. A tranzisztor alapjában véve ma is csak egy három kivezetésű, aktív alkatrész, amely áramerősítésre alkalmas.

Tartalom

Előszó	7
Mérési módszerek mikroprocesszoros áramkörök vizsgálatára	9
Időzítésvizsgálat	11
Állapotvizsgálat	19
Szoftveranalízis	27
Signature-analízis	32
Rövidzárkeresés	36
Mikroprocesszoros rendszerek vizsgálatára alkalmas műszerek	41
Oszcilloszkópok	41
Szintjelzők, komparátorok, impulzusadók	51
Logikai analizátorok	57
A logikai analizátorok felépítése és működése	57
A logikai analizátorok jellemzői	69
Digitális jelforrások	97
Impulzusgenerátorok	99
Szógenerátorok	101
Kombinált generátor/analizátor rendszerek	110
Interfész-analizátorok	110
Mikroprocesszorsín-vizsgálat	110
Készülékek az IEC 625/IEEE 488 interfész vizsgálatára	113
Soros-interfész analizátorok	126
Mikroprocesszoros fejlesztőrendszerek	133
Hordozható szervizműszerek	142
Szimulációs elven működő mikroprocesszor-hibakeresők	143
Signature-analizátorok	148
Áramútvizsgálók	152
Mérések mikroprocesszoros áramkörökben	157
A mikroszámítógépek hardver- és szoftverelemei	157
A hardver ellenőrzése	162
A CPU vizsgálata	163
ROM-ok vizsgálata	166
RAM-ok vizsgálata	167
B/K egységek vizsgálata	168
A szoftver ellenőrzése	168
A szoftvertesztelhetőség előfeltételei	170
A szoftver ellenőrzésének lépései	173
Programhibák javítása	176
Tárak működésének vizsgálata	176
A floppy-diskek felépítése és működése	177
A floppy-diskek hibái	179
Floppy-diskek vizsgálata	181
Adatátvitel-tesztelés	185
Környezeti hatások vizsgálata	190
Elektromos zavarok hatása	190
Klimatikus hatások	193
A környezeti szennyezés hatása	194
Gyakorlati tanácsok	195
Általános tanácsok a hibakereséshez	195
A mikroprocesszoros berendezésekben végzett hibakeresés sajátosságai	197
Kezelési tanácsok	199
Tesztelhetőség beépítése mikroprocesszoros berendezésekbe	203
Öntesztprogramok	203
ROM teszt	204
RAM teszt	206
B/K teszt	207
Öntesztelés hardverelemekkel	210
Az öntesztelő program beépítése a hardverbe	211
Kódellenőrző- és korrekciós áramkörök	213
Speciális ellenőrző-áramkörök	219
Általános tervezési szempontok	232
Az öntesztfunkció ellenőrzése	234
Függelék	235
Irodalom	251
Tárgymutató	257